Последовательный рентгенофлуоресцентный волнодисперсионный спектрометр XRF-1800

Отличается исключительной чувствительностью к легким элементам и высоким разрешением линий редкоземельных элементов, прекрасно подходит для анализа объектов неоднородной структуры.

Прибор способен проводить качественный и количественный анализ от бериллия Ве(4) до урана U(92) за 2,5 минуты, базовая комплектация проводит измерение от кислорода О(16). Получение картины распределения элементов на поверхности пробы производится с шагом 250 мкм. За счет установленных микроколлиматоров и цифровой камеры доступен анализ в микроточке Ø 500 мкм. Качественный анализ и количественное определение производится с использованием линий высших порядков: система может переключать профиль первого порядка на отображение профиля высокого порядка. Пользователь может выполнить более точную оценку пиковых помех высшего порядка.

Высокие аналитические характеристики обусловили широкое применение спектрометра в различных областях науки и промышленности: в электронике и при исследовании состава магнитных материалов, химической, нефтяной, угольной промышленности, черной и цветной металлургии, экологии и сельском хозяйстве. Использование в области исследования силикатов (цементы, огнеупоры, стекла, керамика, горные породы) показывает превосходные результаты.

Генератор рентгеновского излучения имеет Rh-анод мощностью 4 кВт. Конструкция рентгеновской трубки предусматривает торцевое расположение окна для выхода потока рентгеновских квантов. В этом случае окошко остается «холодным» и делает возможным использование более тонкого бериллиевого окна по сравнению с боковым расположением. Это способствует высокой надежности и увеличению длительности срока службы. По сравнению с обычной лампой мощностью 3 кВт, в легких элементах достигается более чем двукратное повышение чувствительности. Для термостабилизации анода, разогревающегося из-за приложения высокого напряжения, используется схема двойного контура.

Система может рассчитать теоретическую интенсивность рассеяния рентгеновских лучей с помощью оригинального фонового метода Фундаментальных параметров. С помощью этого метода расчета можно оценить толщину и элементный состав плёнок неорганической и органической природы. Анализ образцов можно проводить в воздушной среде или вакууме в зависимости от задач пользователя, можно организовать проведение измерений в среде гелия или азота.

Для оптимизации измерений подключается автосамплер на 8 образцов.

Контроль и управление спектрометром реализуется с помощью русифицированного удобного программного обеспечения, понятного пользователям любой квалификации.